EPM570T144I5N Field Programmable Gate Array MAX II Dispositivi logici programmabili complessi TQFP-144

EPM570T144I5N Field programmabile gate array MAX II complessi dispositivi logici programmabili TQFP-144

Descrizione del prodotto EPM570T144I5N
EPM570T144I5N è un CPLD MAX® II non volatile a accensione istantanea basato su un processo di flash metallico a 6 strati da 0,18 μm, con densità da 240 a 2,210 elementi logici (LE) (128 a 2,0 μm).210 macrocelle equivalenti) e memoria non volatile di 8 Kbits. I dispositivi MAX II offrono alti conteggi di I/O, prestazioni veloci e adattamento affidabile rispetto ad altre architetture CPLD.e programmabilità in-system (ISP) migliorata, i dispositivi MAX II sono progettati per ridurre i costi e la potenza, fornendo al contempo soluzioni programmabili per applicazioni quali il bus bridging, l'espansione I/O, il reset di accensione (POR) e il controllo del sequenziamento,e controllo della configurazione del dispositivo.

Specificità dell'EPM570T144I5N

Caratteristiche dell'EPM570T144I5N
CPLD a basso costo e a bassa potenza
Architettura istantanea e non volatile
Corrente in standby inferiore a 25 μA
Fornisce un ritardo di propagazione veloce e tempi di clock-to-output
Fornisce quattro orologi globali con due orologi disponibili per blocco di matrice logica (LAB)
Blocco UFM fino a 8 Kbits per lo storage non volatile
Core multivolt che consente tensioni di alimentazione esterne al dispositivo di 3,3 V/2,5 V o 1,8 V
Interfaccia I/O multivolt che supporta livelli logici da 3,3 V, 2,5 V, 1,8 V e 1,5 V
Architettura adatta ai bus, inclusa la velocità di trasmissione programmabile, la resistenza dell'azionamento,
con una tenuta del bus e una resistenza programmabile a trazione
Azionatori Schmitt che consentono l'accesso a input resistenti al rumore (programmabili per pin)
I/O sono pienamente conformi alla specifica del bus locale PCI, revisione 2.2, del gruppo di interesse speciale per l'interconnessione dei componenti periferici (PCI SIG) per il funzionamento a 3,3 V a 66 MHz
Supporta la presa a caldo
Circuiti integrati di prova di scansione di confine (BST) del gruppo di azione congiunta di prova (JTAG) conformi alla norma IEEE Std. 1149.1-1990
Circuiti ISP conformi a IEEE Std. 1532

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Domande frequenti
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